SUNX速多点激光位移传感器,神视位移传感器
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Z完善化测量宽度内分割的光量的同时,进行的测量。适用于光泽和颜色不一样的测定工作。
以往的2维位移传感器由于对整个测量宽度(X轴)进行统一的光量调节,反射率相差较大的部分混在一起时,会产生受光量饱和或不足,从而导致难以获得有效的测量结果。
HL-D3系列产品则对测量宽度(X轴)内进行细分,并分别对各分割单位(称为“光量调整单位”)进行投光量调节,使敏感度*化,实现了稳定而的测量。
【特 长】
・反射率不同的部分混在一起的工件也能进行稳定测量。
→ 金属部分和树脂部分的混合
→ 平坦面和倾斜面的混合……等
・实现测量
→ 分辨率 1μm(平均数:64,测量平均度)
SUNX速多点激光位移传感器HL-D3可Z多对测量宽度(X轴)上的任意位置的10个测量点进行超速测量和判定。
以往的2维位移传感器,须对整个测量宽度(X轴)进行一测量后,才能取得点的测量结果,因此不适合速测量用途。HL-D3系列产品仅对的点进行位移测量,可进行效的内部处理,因此,从测量、运算到判定的过程速度非常。当然,各测量点可分别调节敏感度,实施*化测量,因此,也实现了测量。
【特 长】
・实现速取样→Z快80μs(2光点时)
・测量点可任意 → Z多10点
・具有点的缓冲功能
・可进行度、低差的运算及判定的输出
■动作环境
OS Microsoft® Windows® XP 日语版(SP2以上、仅为32bit版)、
Microsoft® Windows® 2000 日语版(SP4以上)
CPU Pentium®兼容CPU、1GHz以上
存储器 512MB以上
画面显示 1,024×768 点阵 256色以上
硬盘 50MB以上的可用空间
USB接口 依据USB2.0全速(USB1.1兼容)
※安装时需要CD-ROM驱动器。
※Microsoft Windows是Microsoft公司的注册商标。
※Pentium是In公司的注册商标。
※Windows 2000必须IE6.0 SP1以上。
的平行光轴
采用的光学系统,实现了*的平行光轴。可减少投光到立体物品上时所产生的阴影,因此,能更正确地检测立体物品的形状。
SUNX速多点激光位移传感器,神视位移传感器